IC封裝PCT老化試驗(yàn)箱

艾思荔IC封裝PCT老化試驗(yàn)箱高質(zhì)感外觀，機(jī)體采圓弧造型，表面經(jīng)霧面條紋處理，采用數(shù)控機(jī)床加工成型，并采用三角丁字形把手，封鎖牢固，防止高溫沖擊，安全可靠。圓形箱體后面設(shè)計(jì)長軸風(fēng)冷馬達(dá)，有助風(fēng)力增強(qiáng)，試驗(yàn)不中斷。由多層線路板，電器配置優(yōu)的電子元器件。采用多組耐高溫電磁閥，具可外接式供水系統(tǒng)，方便于補(bǔ)充加濕桶供水，并自動(dòng)回收使用。

PCT老化試驗(yàn)箱技術(shù)要求：

1、溫度范圍 105℃ → +132℃. (控制點(diǎn)) 溫度波動(dòng)度 ±0.5℃.

2、溫度偏差 ±2.0℃.

3、濕度范圍 75% ～ 100 %R.H . (控制點(diǎn))

4、濕度波動(dòng)度 ±2.5 %R.H.

5、濕度均勻度 ±5.0%.

6、壓力范圍 0.5～2㎏/㎝2 (0.05～0.196 MPa) (控制點(diǎn))

7、升溫時(shí)間 常溫 → + 132℃ 35 min .

8、升壓時(shí)間 常壓 → + 2㎏/㎝2 40 min.

9、具有自動(dòng)加水功能并且在試驗(yàn)過程中水過低時(shí)自動(dòng)補(bǔ)水。  

10、試驗(yàn)過程自動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn)至完成結(jié)束，使用簡便。

11、溫度控制：LED數(shù)字型溫度控制器可作準(zhǔn)確試驗(yàn)溫度之設(shè)定、控制及顯示。  

12、計(jì)時(shí)器：LED數(shù)字型計(jì)時(shí)器，當(dāng)鍋內(nèi)溫度到達(dá)后才開始計(jì)時(shí)以確保試驗(yàn)*。  

13、準(zhǔn)確的壓力/溫度表隨時(shí)顯示鍋內(nèi)壓力與相對溫度。  

14、運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)流水器自動(dòng)排出未飽和蒸氣以達(dá)到佳蒸氣品質(zhì)。  

15、一體成型矽膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長。  

16、內(nèi)經(jīng)拋光處理經(jīng)久耐用美觀    

PCT老化試驗(yàn)箱不工作：

1、定期檢查所管路及接頭，如發(fā)現(xiàn)泄漏或損壞，請立即維修或更換。  

2、試驗(yàn)箱水位抽不上來，檢測電磁閥動(dòng)作是否正常、出現(xiàn)異聲或不作業(yè)，請即刻更換電磁閥。

3、電熱管老化燒懷，使升溫后的溫度達(dá)不到試驗(yàn)的溫度，無法達(dá)到效果，lian系生產(chǎn)廠家專業(yè)人員進(jìn)行更換電熱管，請勿自行更換，以免引起不必要的損失。

PCT老化試驗(yàn)箱用途：適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測，相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的耐厭性，氣密性。  

IC封裝PCT老化試驗(yàn)箱介紹：已經(jīng)設(shè)計(jì)的產(chǎn)品規(guī)模推廣打入市場，由于國內(nèi)以前無法生產(chǎn)高新技術(shù)HAST/PCT，幾乎求救于、美國等國外昂貴產(chǎn)品，價(jià)格居高不談，而且售后服務(wù)效率低以及維護(hù)費(fèi)用高昂，給企業(yè)帶來很不方便和無形的損失，作為具有十余年環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備研發(fā)生產(chǎn)銷售及服務(wù)的艾思荔箱器，成功研發(fā)高溫高壓蒸煮爐展向市場，已有多年生產(chǎn)技術(shù)。